室温扫描探针显微镜系统（RT—STM/Nc AFM）

详细介绍

• 扫描头集成扫描隧道显微镜（STM）和原子力显微镜（AFM）功能
• STM可实现HOPG或Si（111）原子分辨率
• AFM可实现HOPG或Si（111）原子台阶分辨率
• SPM样品台具备加热变温功能，变温范围包括RT-250℃
• Z方向的最大粗动距离≥5 mm
• 扫描范围：≥5μm×5μm
• 系统可在超高真空环境下工作（系统极限真空度≤5×10-10 mbar）。也可在气氛环境下工作

      

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